紫外线透射密度/透射率仪T5plusUV特征/测量项目◎可测量高达6.0D密度、密度测量、半色调百分比（负片/正片兼容）、透射率和校正功能。配件•孔径：Φ3mm、Φ2mm、Φ1mm•使用说明书（含保修）•校准/验证胶片•交流适配器（DC9-12V，0.5-0.8A）•通讯线（可选）•白色包装盒（标配）或便携箱（可选）产品描述可测量密度（光密度）/半色调百分比（负片/正片）/透射率。配备校正功能。体积小巧，重量轻。■主要测量对象：各类合成树脂（薄膜、乙烯...

MIYUKI美幸辉BAR‑J100｜JISDN100经济型电动伺服蝶阀（镀膜/锂电常规工艺）原装现货供应：玉崎科学仪器（深圳）有限公司品牌负责人林经理详细办公地址（广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层）型号：BAR‑J100，JISDN100（100A）电动伺服蝶阀，可选型‑B带电磁抱闸版本BAR系列经济型伺服蝶阀，DC24V伺服电机直驱，蝶板式结构，性价比高，0‑90°全行程无级开度调节；相比GAR闸阀成本更低，适合工业PVD镀膜、锂电脱气、中试等离子腔体常...

MIYUKI美幸辉BAZ‑J25｜JISDN25电动数字定点蝶阀（真空炉/钎焊定点控制）原装供应：玉崎科学仪器（深圳）有限公司，品牌负责人林经理办公地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层型号：BAZ‑J25，JISDN25（25A）数字定点电动蝶阀，需配套原厂MS‑PC定点控制器成套使用BAZ系列为档位定点开度型蝶阀，伺服电机直驱，00‑99共100档数字定位，可直接设定5%、25%、50%、75%等固定开度；内置电磁抱闸断电锁位，无PID连续闭环，主打固...

PA‑micro显微型二维双折射/残余应力测量系统品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）PA‑micro属于PA系列显微微区专用机型，分为完整成套PA‑micro（含显微镜）和机头版PA‑micro‑S（仅测量机头，无显微镜）。将500万像素光子晶体偏振成像单元搭载于科研级显微镜，实现微米级视场下低相位差、微弱残余应力二维面测量；非接触无损快照成像，3‑10秒输出显微视场相位差、光轴角度云图；专门用于微小器件局部微区应力分析。核心原理沿用PA系列...

PA‑300二维双折射/残余应力测量系统日本Photonic‑Lattice玉崎科学原装供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）PA‑300为PA系列标准台式基础机型；面向低相位差、微弱残余应力精密硬质基材；搭载500万像素光子晶体偏振成像传感器，无旋转运动部件；非接触无损全域快照测量，3‑10秒输出完整应力云图；衍生大载台PA‑300‑L、超大台面PA‑300‑XL、近红外PA‑300‑NIR、模块化PA‑300‑MT型号。核心原理自研像素级...

WPA‑300‑L二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑300‑L是WPA‑300系列大载台工业版机型；光学传感器性能与WPA‑300一致（分辨率较WPA‑200提升5倍），加大样品承载台面，最大样品可达240×320mm；面向中大尺寸高相位差透明工件，无损非接触全视场快照测量，2‑5秒输出全域应力云图，适合工业品质管控与研发分析。核心原理搭载自研光子晶体偏振阵列传感器，...

WPA‑300二维双折射/残余应力测量系统Photonic‑Lattice玉科原装供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑300是WPA‑200系列新一代升级主力台式机型；完整继承WPA‑200三波长大位相差测量能力，偏振传感器分辨率提升5倍，可同时捕捉高相位差本体应力与局部微小应力集中；面向工业品质管控、研发分析；衍生大载台版本WPA‑300‑L。核心原理搭载自研光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523nm/543nm...

WPA‑200‑L二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学原装供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑200‑L属于WPA‑200系列大载台版本；光学测量性能与WPA‑200一致，仅放大样品承载平台，用于中‑大尺寸高相位差透明工件；非接触无损全域面测量，2‑5秒输出完整应力云图。核心原理搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523nm/543nm/575nm三波长解包裹技术，解决高相位差相位缠绕；输出相位差(nm)、光轴角度...

WPA‑200‑XL二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑200‑XL为WPA‑200系列超大台面机型；光学测量性能与WPA‑200、WPA‑200‑L保持一致，专门用于最大约500mm级超大尺寸高相位差透明工件；非接触无损全域面测量，2‑5秒输出完整应力云图；该型号不支持变焦镜头选件。核心原理搭载自研光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523nm/543n...

PA‑300‑MT模块化分体式二维双折射/残余应力测量单元品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）PA‑300‑MT是PA系列模块化集成型测量机头单元；光学测量性能与PA‑300一致，光源与传感机头可与样品台分离；主打设备嵌入、半在线/离线自动化工位集成，既可以简易台式使用，也可集成到客户工装、自动化设备；500万像素，面向低相位差精密基材无损面测量，3‑10秒输出全域双折射云图。核心原理像素级光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；单波长5...

PA‑300‑NIR近红外二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）PA‑300‑NIR为PA系列近红外专用台式机型；硬件架构与PA‑300一致，将测量光源改为850nm近红外波长；用于可见光不透明、但近红外可透过的低相位差材料；500万像素光子晶体偏振传感器，非接触无损快照测量，3‑10秒输出二维双折射云图。区分：PA‑300（520nm可见光）测普通玻璃；PA‑300‑NIR（8...

CRYSTA系列高速偏振相机瞬态动态双折射/应力专用高速偏振成像相机品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本），与Photron（富特朗）联合开发CRYSTA是瞬态动态双折射/应力专用高速偏振成像相机；区别PA/WPA静态台式测量系统，专门捕捉微秒‑毫秒级动态过程，无旋转检偏机械部件，单次曝光获取全部二维偏振信息；可独立使用，也可成套集成Rheo‑Iris流变同步系统、DELTAPH高速干涉仪。核心原理光子晶体像素级微偏振阵列CMOS传感器，2×2像...