PA‑300 二维双折射 / 残余应力测量系统Photonic‑Lattice玉崎科学原装供应

更新时间：2026-09-07

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PA‑300 二维双折射 / 残余应力测量系统日本Photonic‑Lattice玉崎科学原装供应

品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）

PA‑300 为 PA 系列标准台式基础机型；面向低相位差、微弱残余应力精密硬质基材；搭载 500 万像素光子晶体偏振成像传感器，无旋转运动部件；非接触无损全域快照测量，3‑10 秒输出完整应力云图；衍生大载台 PA‑300‑L、超大台面 PA‑300‑XL、近红外 PA‑300‑NIR、模块化 PA‑300‑MT 型号。

核心原理

自研像素级光子晶体偏振阵列传感器，单次曝光采集全部偏振信息；采用单波长 520 nm 绿光，针对 0‑130 nm 微弱相位差信号优化；输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件，输入材料光弹系数换算等效应力 MPa。

关键技术参数

项目	参数
测量波长	520 nm 绿光（‑NIR 版本为 850 nm 近红外）
相位差量程	0‑130 nm；PA‑300‑NIR：0‑213 nm
传感器像素	2056 × 2464（约 500 万像素）
标准镜头视场	30×36 mm ～100×133 mm；选配变焦镜头 5.5×6.6 mm～25×30 mm 微区观测.
重复精度	相位差 σ 1.0 nm
测量时间	3‑10 s / 全视场
输出	相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配）...
软件	PA‑View；云图、线剖面、ROI 统计、CSV 导出、远程 API 接口
整机尺寸 (W×D×H)	270 × 337 × 最大 631 mm
整机重量	约 12 kg
接口	GigE；电源 AC100‑240V 50‑60Hz

✨主要特点

超高灵敏度捕捉微弱双折射：500 万像素，专门针对玻璃、晶圆等低应力样品，适合纳米级残余双折射定量检测；
快照式全视场成像，无需逐点扫描；无旋转检偏器，无机械磨损，抗振动、维护简单；
支持变焦镜头，兼顾大面积全域检测与局部微区应力观察；
软件支持视场校正、实时分析、远程 API，便于对接自动化流程；
不支持三波长，不适合高相位差树脂塑胶样品，高应力样品选用 WPA 系列。

🎯典型应用样品

✅半导体：石英光掩模板、玻璃晶圆、蓝宝石、SiC 碳化硅衬底；✅光学玻璃：化学强化盖板玻璃、退火玻璃、激光加工后玻璃残余应力评估；✅精密光学元件：熔融石英窗口片、光学镜片；✅评估热处理、强化工艺、激光加工引入的微弱残余应力分布。

⚠️选型提示

中大尺寸样品选用 PA‑300‑L；A3 幅面超大样品选用 PA‑300‑XL；红外透光材料选用 PA‑300‑NIR；设备集成选用 PA‑300‑MT；微区显微测量选用 PA‑micro。
相位差超过 130 nm 树脂、注塑件，选用 WPA 系列。

🧩原厂可选配件

变焦镜头、应力 MPa 数据处理选件、遮光罩、视场校正功能、远程控制 API 接口、真空吸附样品台（‑L/‑XL 选配）

采购渠道

玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应

品牌负责人：林经理

地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学