WPA‑300‑L二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑300‑L是WPA‑300系列大载台工业版机型；光学传感器性能与WPA‑300一致（分辨率较WPA‑200提升5倍），加大样品承载台面，最大样品可达240×320mm；面向中大尺寸高相位差透明工件，无损非接触全视场快照测量，2‑5秒输出全域应力云图，适合工业品质管控与研发分析。核心原理搭载自研光子晶体偏振阵列传感器，...

WPA‑300二维双折射/残余应力测量系统Photonic‑Lattice玉科原装供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑300是WPA‑200系列新一代升级主力台式机型；完整继承WPA‑200三波长大位相差测量能力，偏振传感器分辨率提升5倍，可同时捕捉高相位差本体应力与局部微小应力集中；面向工业品质管控、研发分析；衍生大载台版本WPA‑300‑L。核心原理搭载自研光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523nm/543nm...

WPA‑200‑L二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学原装供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑200‑L属于WPA‑200系列大载台版本；光学测量性能与WPA‑200一致，仅放大样品承载平台，用于中‑大尺寸高相位差透明工件；非接触无损全域面测量，2‑5秒输出完整应力云图。核心原理搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523nm/543nm/575nm三波长解包裹技术，解决高相位差相位缠绕；输出相位差(nm)、光轴角度...

WPA‑200‑XL二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑200‑XL为WPA‑200系列超大台面机型；光学测量性能与WPA‑200、WPA‑200‑L保持一致，专门用于最大约500mm级超大尺寸高相位差透明工件；非接触无损全域面测量，2‑5秒输出完整应力云图；该型号不支持变焦镜头选件。核心原理搭载自研光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523nm/543n...

PA‑300‑MT模块化分体式二维双折射/残余应力测量单元品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）PA‑300‑MT是PA系列模块化集成型测量机头单元；光学测量性能与PA‑300一致，光源与传感机头可与样品台分离；主打设备嵌入、半在线/离线自动化工位集成，既可以简易台式使用，也可集成到客户工装、自动化设备；500万像素，面向低相位差精密基材无损面测量，3‑10秒输出全域双折射云图。核心原理像素级光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；单波长5...

PA‑300‑NIR近红外二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）PA‑300‑NIR为PA系列近红外专用台式机型；硬件架构与PA‑300一致，将测量光源改为850nm近红外波长；用于可见光不透明、但近红外可透过的低相位差材料；500万像素光子晶体偏振传感器，非接触无损快照测量，3‑10秒输出二维双折射云图。区分：PA‑300（520nm可见光）测普通玻璃；PA‑300‑NIR（8...

CRYSTA系列高速偏振相机瞬态动态双折射/应力专用高速偏振成像相机品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本），与Photron（富特朗）联合开发CRYSTA是瞬态动态双折射/应力专用高速偏振成像相机；区别PA/WPA静态台式测量系统，专门捕捉微秒‑毫秒级动态过程，无旋转检偏机械部件，单次曝光获取全部二维偏振信息；可独立使用，也可成套集成Rheo‑Iris流变同步系统、DELTAPH高速干涉仪。核心原理光子晶体像素级微偏振阵列CMOS传感器，2×2像...

WPA‑200二维双折射/残余应力测量系统玉崎科学仪器原装供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA‑200为WPA系列标准台式基础机型，面向高相位差、高残余应力透明材料；采用自研光子晶体偏振成像传感器+三波长解包裹技术；非接触无损全视场面测量，2‑5秒输出完整应力云图；主打实验室研发、小样品质评估；同系列衍生大台面WPA‑200‑L、超大台面WPA‑200‑XL核心原理搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器等运动部件；采用523nm/5...

CRYSTA系列｜Photonic‑Lattice高速偏振相机玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本），与Photron（富特朗）联合开发定位：世界顶尖高速二维偏振成像相机；面向瞬态动态现象；单帧曝光即可获取全域偏振信息，无旋转检偏器、无运动部件，捕捉微秒级动态双折射、应力传播、分子取向变化；可独立相机使用，也可集成到Rheo‑Iris流变同步成像、DELTAPH高速干涉仪系统✨核心技术原理光子晶体微偏振阵列...

KAMAKIRI系列线扫描式离线/在线双折射应力检测系统玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应品牌：Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）定位：光学薄膜产线专用线扫描双折射（位相差）检测设备，打通实验室研发（PA/WPA台式机）→量产在线质控；将光子晶体偏振传感器+Photron高速相机结合，实现走带状态下连续扫描，输出相位差nm、光轴角度°、应力分布云图，替代传统人工抽样检测，可实现整卷薄膜100%全幅全长度检测。软件：KAMAKIRILi...

PA系列｜低相位差・超高精度Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）二维双折射/残余应力分布测量系统PA系列定位：面向低双折射、低相位差精密硬质基材；单波长520nm，量程0‑130nm；500万像素(2056×2464)光子晶体偏振成像传感器；非接触无损全域面测量，3‑10秒输出完整应力云图；对标三鹰光器Mitaka低相位差机型。❗注意：PA系列不适合高相位差树脂、厚塑胶，高应力样品请选用WPA系列。✨核心技术原理硬件基础：自研光子晶体偏振成像阵列传感...

玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应供应：WPA系列大位相差・高应力样品（Photonic‑Lattice日本）产品全称：二维双折射/残余应力分布测量系统WPA系列定位：面向高双折射、大相位差样品；三波长解包裹技术，量程0‑3500nm，选配高相位差选件最高可达10000nm；非接触无损全域面测量，数秒输出完整应力云图；对标三鹰光器Mitaka大位相差机型。✨核心技术原理硬件基础：自研光子晶体偏振成像阵列传感器，无旋转检偏器等运动部件，无机械磨损；三波长测量技术（523n...