OSI王子计测 KOBRA-WFD0 相位差测量系统带样品进给
OSI王子计测相位差测量系统带样品进给

KOBRA-WFD0 是王子计测 KOBRA 系列中面向长卷光学薄膜的离线高精测量旗舰机型。
其凭借平行尼科尔旋转法、6 波长 LED与自动送料三大核心技术，平衡了超宽测量范围与纳米级精度，是平板显示、光学薄膜产业中进行材料研发、工艺优化与品质管控精密分析工具

Oji Keisoku (王子计测，OSI) KOBRA-WFD0 是一款专为长条形光学薄膜研发的高精度、自动进样式光学位相差测量系统，核心用于薄膜的相位差、取向角、波长色散及入射角依赖性分析，是光学膜研发与质检的设备。

一、核心技术原理

• 测量方法：平行尼科尔旋转法 (Parallel Nicol Rotation Method)

• 相比传统旋转检偏器法，对超低相位差样品（如 OLED 圆偏光片基材）灵敏度高。

• 光路稳定性强，可实现超宽量程一次性测量，无需切换档位。

• 光源系统：6 波段固态 LED 光源

• 波长：450 / 500 / 550 / 590 / 630 / 750 nm (±2 nm)

• 寿命：>20,000 小时，免维护，无需更换汞灯 / 卤素灯。

二、关键技术参数

• 测量范围

• 相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（覆盖从超薄膜到厚补偿膜全量程）

• 取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°

• 精度指标

• 相位差分辨率：0.001 nm

• 相位差重复性：≤ 0.03 nm (150 nm 标样，590 nm, 3σ)

• 角度分辨率：0.001°

• 样品规格

• 轮廓测量 (Profile)：宽度 50 mm × 长度任意（支持连续自动送料）

• 入射角依赖测量：30 mm ~ 40×50 mm，厚度 t ≤ 3 mm

• 测量光斑：33 mm² (5.8 mm 方形)

• 控制系统

• 专用软件：KOBRA-DSP/FD, KOBRA-RE0

• 支持数据可视化、报告导出、多点分布分析

三、产品核心优势

1. 宽幅自动进样

• 专为卷对卷 (Roll-to-Roll) 工艺的长条形薄膜设计，支持连续、自动化的长度方向相位差分布（Profile）测量。

• 大幅提升检测效率，适合产线抽检与研发批量测试。

2. 超宽量程与超高精度

• 单次测量覆盖 0 至 20,000 nm，无需更换检测器或调整增益。

• 对nm 级超薄薄膜（如 OLED 用 COP 膜）和μm 级厚膜（如大尺寸 LCD 补偿膜）均具备纳米级测量精度。

3. 多功能分析能力

• 相位差分布 (Profile)：沿薄膜宽度 / 长度方向的均匀性分析。

• 入射角依赖性 (Angle Dependence)：模拟不同视角下的光学表现。

• 波长色散特性 (Wavelength Dispersion)：多波长下的相位差变化趋势。

四、典型应用领域

• 显示光学材料：相位差膜、偏光板、OLED/LED 用圆偏光片、液晶补偿膜

• 高分子材料：拉伸薄膜、聚酰亚胺 (PI) 膜、COP/Cyclic Olefin Polymer 膜

• 研发与质检：光学膜材料开发、制程稳定性监控、来料品质检验、失效分析

五、总结