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产品型号：KOBRA-HB/KOBRA-HBPR
更新时间：2026-04-18
厂商性质：代理商
访问量：24
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OSI王子计测相位差椭圆偏振测量装置现货
OSI王子计测相位差椭圆偏振测量装置现货
KOBRA-HB（基础标准）KOBRA-HBPR（椭圆偏振）KOBRA-HBSPC（分光全光谱）
平行尼科尔旋转法（标准模式）：高速测量面内位相差 (Re)、方位角 (φ)、双折射 (Δn)，适合大面积 mapping、快速抽检
旋转偏振器法（椭圆偏振模式，HBPR）：一次旋转获取椭圆率 ψ、相位差 Δ，计算薄膜厚度、折射率、消光系数，适配半导体 / 光学镀膜
平行尼科尔光谱法（分光模式，HBSPC）：400~800nm 连续光谱，测波长色散特性 (Re-λ)，分析多层膜、液晶、光学膜的色散行为
| 型号 | KOBRA-HB（基础标准） | KOBRA-HBPR（椭圆偏振） | KOBRA-HBSPC（分光全光谱） |
|---|---|---|---|
| 核心功能 | 位相差、方位角、双折射 | 位相差 + 椭圆偏振 (ψ/Δ)、膜厚 / 折射率 | 位相差 + 全光谱色散 (400-800nm) |
| 测量波长 | 450/500/550/590/630/680nm（6 波段 LED） | 同标准 6 波段 | 400~800nm 连续分光 |
| 测量光斑 | 5.8mm 角（33mm²） | 5.8mm 角 | φ0.8mm（微区点测） |
| 样品台 | 固定垂直入射 | 倾斜旋转台（0~60° 斜入射） | 倾斜旋转台 + 分光光路 |
| 适用场景 | 常规光学膜、偏光板、拉伸膜、内应力检测 | 半导体薄膜、光学涂层、液晶盒、多层膜 | 波长色散、微区、超薄膜、复杂光学材料 |
位相差量程：2nm 以下～20000nm（全量程无盲区，覆盖超薄到超厚样品）
位相差分辨率：0.001nm；重复性（3σ）：≤0.03nm（150nm 标准片，590nm）
方位角分辨率：0.001°；重复性（3σ）：≤0.005°（取向角高精度）
光源：长寿命 LED（寿命 > 20,000 小时），免维护、无需换灯，稳定性远超传统卤素 / 汞灯
样品尺寸：最大 100×100mm，厚度≤3mm；大开口设计，可直接放入偏光板、大片薄膜
设备尺寸：W300×D700×H500mm（比 KOBRA-W 体积缩小 40%，节省空间）
测量速度：单点测量 < 1 秒；mapping 模式高速扫描
超宽量程突破：从超低 Re (2nm 以下) 到超高 Re (20000nm)，一台覆盖所有双折射样品，无需多台设备切换
精度与稳定：方位角 / 位相差分辨率提升，长期漂移极小，适合量产线 24h 连续质控
免维护 LED 光源：寿命 > 2 万小时，无耗材、无预热、开机即测，运维成本大幅降低
紧凑型大开口：体积更小、样品开口更大，兼容大片 / 厚片，实验室 / 产线都适配
三合一多功能：标准 / 椭圆偏振 / 分光三种模式，满足从基础检测到研发的全需求
软件与自动化：专用分析软件，自动计算 Re/φ/Δn/ψ/Δ、生成 mapping 图、色散曲线、数据导出；支持自动进样器选配
光学薄膜：PET/PI/COP/LCP/PC、相位差膜、偏光板、补偿膜、拉伸膜
显示 / 液晶：液晶盒、TFT、OLED 光学层、偏光组件
半导体 / 镀膜：介电薄膜、光学涂层、光刻胶、多层膜
高分子 / 玻璃：塑料片、玻璃内应力、纤维、复合材料、透明板材
光学膜研发：拉伸工艺优化、取向均匀性评估、双折射 / 位相差控制、热收缩分析
显示面板质控：偏光板 / 液晶盒位相差、旋光角、斜入射特性检测
半导体 / 镀膜：薄膜厚度、折射率、消光系数、多层膜结构解析
材料失效分析：内应力、双折射异常、取向缺陷排查
标准配置：主机（LED 光源 + 偏振光学系统 + 旋转台）、专用分析软件、标准校准片、样品夹具
核心选配：
自动进样器（批量样品连续测量，20~50 片）
倾斜旋转台（0~60° 斜入射，测角度依存性）
微区光斑模块（φ0.8mm，局部点测）
高温样品台（室温～150℃，高温下双折射测量）
数据导出 / PLC 对接 / 产线监控模块
八、采购渠道
欢迎广大行业客户、合作伙伴垂询与洽谈合作：
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
专项负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵⁰⁹⁹⁸ （林）
地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学
# Oji Keisoku OSI王子计测中国代理商玉崎科学仪器（深圳）有限公司
