OSI王子计测 WX50/WX100/WX150/WX-IR 长样品相位对比测量系统
OSI王子计测长样品相位对比测量系统

OSI王子计测长样品相位对比测量系统

OSI王子计测长样品相位对比测量系统

KOBRA-WX***系列长样品相位对比测量系统

• 型号区分（WX***）：按幅宽划分标准型号：WX50（50mm 幅宽）、WX100（100mm 幅宽）、WX150（150mm 幅宽）；另有WX-IR 红外版（适配 850~1100nm 红外光学膜）

■特征
测量方法：
平行尼科尔旋转法

测量波长：
450、550、590、650nm

按样品阶段划分的样品尺寸

测量区域
33mm²（5.8mm 正方形：感光细胞区域）

软件名称：
KOBRA-DSP/X

测量项目：
相位差和取向角轮廓

Oji Keisoku (OSI 王子计测) KOBRA-WX*** 长样品相位差测量系统 产品介绍

一、核心定位与测量原理

1. 产品定位

• 核心用途：长尺 / 大尺寸光学膜（幅宽 50/100/150mm、长度≤1000mm） 的相位差 (Retardation)、取向角 (Optic Axis)、幅宽方向均匀性 (Profile)、波长色散 非接触、全自动测量

• 对标场景：光学膜研发、制程均匀性监控、来料 / 出货全尺寸质检、偏光板 / 补偿膜 / COP/PI 膜长样品评估

• 型号区分（WX***）：按幅宽划分标准型号：WX50（50mm 幅宽）、WX100（100mm 幅宽）、WX150（150mm 幅宽）；另有WX-IR 红外版（适配 850~1100nm 红外光学膜）

2. 核心测量原理

• 平行尼科尔旋转法 (Parallel Nicol Rotation Method)：王子计测技术，相比传统旋转检偏器法，超低相位差灵敏度高、光路稳定性强、宽量程无需换挡、重复性更好，适配从 nm 级超薄膜到 μm 级厚补偿膜

• 光源：多波长固态 LED（标准 450/550/590/650nm，可选扩展至 6 波段），寿命 > 20,000 小时，免维护、无预热、波长稳定

二、关键技术参数（以 WX100 为基准，同系列通用）

1. 测量范围与精度

• 相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（全量程单次测量，无档位切换）

• 取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°

• 相位差分辨率：0.001 nm；重复性：≤0.03 nm (150nm 标样，590nm, 3σ)

• 角度分辨率：0.001°；重复性：≤0.05°

• 测量光斑：33 mm² (5.8 mm 方形)，保证大区域平均测量、避免局部缺陷干扰

2. 样品规格（核心长样品适配）

• 标准幅宽：WX50(50mm)、WX100(100mm)、WX150(150mm)

• 样品长度：≤1000 mm（支持整段连续扫描）

• 样品厚度：≤3 mm

• 样品形态：长条形薄膜、偏光板、裁切长片、卷材裁切样，支持自动进样 / 手动定位、幅宽方向多点 / 全幅扫描

3. 系统与软件

• 专用控制软件：KOBRA-DSP/X

• 测量项目：相位差、取向角、幅宽方向 Profile、长度方向分布、波长色散、均匀性统计（Cpk、标准差）

• 数据输出：CSV、Excel、PDF 报告，支持 2D/3D 分布可视化、趋势分析

• 机身尺寸 (W×D×H)：1550×800×600 mm；重量：约 150 kg；安装空间：W2500×D900 mm

三、核心产品优势

1. 长样品专用自动进样，全幅宽连续测量

• 专为50~150mm 幅宽、最长 1m的长条形样品设计，自动沿长度 / 宽度方向扫描，一次完成整段 Profile，无需反复裁切、手动对位，大幅提升长样品检测效率（单样品≤1min）

• 幅宽方向多点 / 全幅扫描，精准评估横向均匀性（制程拉伸 / 涂布缺陷关键指标）

2. 宽量程 + 纳米级精度，全品类兼容

• 0~20,000nm 超宽相位差覆盖：从OLED 超薄 COP 膜 (几 nm) 到LCD 大尺寸补偿膜 (几 μm) 均可一次测完，无需换模块

• 平行尼科尔法保证超低相位差高灵敏度，解决传统设备测超薄膜不准、重复性差的痛点

3. 稳定可靠、产线级耐用

• LED 固态光源，无耗材、免维护、长期波长漂移极小

• 机械结构刚性强，适合实验室 + 产线抽检双场景，长期运行稳定性优异

• 软件界面简洁、一键测量、自动生成质检报告，降低操作人员门槛

4. 可扩展功能

• 可选入射角依赖测量模块（模拟不同视角光学表现）

• 可选红外版 (WX-IR)：适配 850~1100nm 红外光学膜、触控 / 显示红外膜测量

• 支持定制更长样品、更宽幅宽、多波长扩展

四、典型应用领域

• 显示光学材料：偏光板、相位差膜、OLED 圆偏光片、LCD 补偿膜、COP/PI 拉伸膜

• 高分子材料：长幅光学薄膜、热收缩膜、取向高分子板材

• 研发 / 质检：长样品均匀性评估、制程稳定性监控、来料全尺寸检验、出货品质管控、失效分析

五、同系列型号速览

六、与 KOBRA-WFD0 的核心区别

• WX*：固定长样品 (≤1m)、幅宽 50~150mm、离线自动进样、侧重整段长片 Profile，适合裁切长样、偏光板全尺寸检测

• WFD0：卷对卷连续送料、长度无限、幅宽 50mm、侧重卷材连续量产检测

七、采购渠道

欢迎广大行业客户、合作伙伴垂询与洽谈合作：

玉崎科学仪器（深圳）有限公司

专项负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵⁰⁹⁹⁸  （林）

地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学

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