玉科到货：PA‑300‑NIR近红外二维双折射残余应力测量系统

更新时间：2026-09-03

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到货公告

各位客户、合作伙伴：大家好！

我司新一批已完成入库、检验、上架工作，目前库存充足，可正常接单、发货。

PA‑300‑NIR 近红外二维双折射残余应力测量系统，日本 Photonic‑Lattice；测量波长 850 nm 近红外，相位差量程 0‑213 nm；500 万像素；非接触无损全域面测量，3‑10 秒输出相位差、光轴角度分布云图；用于硫系玻璃、LiDAR 红外元件等可见光不透明、近红外可透过的低相位差样品研发与品质管控；配套 PA‑View 分析软件

PA‑300‑NIR 近红外二维双折射 / 残余应力测量系统

品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）

PA‑300‑NIR 为 PA 系列近红外专用台式机型；硬件架构与 PA‑300 一致，将测量光源改为850 nm 近红外波长；用于可见光不透明、但近红外可透过的低相位差材料；500 万像素光子晶体偏振传感器，非接触无损快照测量，3‑10 秒输出二维双折射云图。
区分：PA‑300（520 nm 可见光）测普通玻璃；PA‑300‑NIR（850 nm）测红外透光肉眼不透明材料；高相位差红外样品选用 WPA‑200‑NIR 三波长版本。

核心原理

像素级光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用850 nm 近红外单波长采集偏振信息；输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件，输入材料光弹系数换算等效应力 MPa。

我司将持续保障货源稳定、供货及时，竭诚为大家提供优质的产品与服务。

如需询价、订购、索取产品资料及资质文件，可随时与我司对接人员联系。

品牌负责人：林经理

玉崎科学仪器（深圳）有限公司

2026年9月2日

优势产品：日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯

变色灯箱、色差仪、卤素光源装置、氧气浓度计、焊接机、应力表面检查仪、LED光源机、电子天平、粘度计、膜厚计、恒流泵、采样泵、PH计、水分计、地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪、接近开关、拉拔机、异音检测仪、应变测试仪、拉针仪、水平测试仪等