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玉科到货：PA‑micro显微型二维双折射残余应力测量系统Photonic‑Lattice
更新时间：2026-09-03
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到货公告
各位客户、合作伙伴：大家好！
我司新一批 PA‑micro显微型二维双折射残余应力测量系统日本Photonic‑Lattice已完成入库、检验、上架工作，目前库存充足，可正常接单、发货。
PA‑micro 显微型二维双折射残余应力测量系统，日本 Photonic‑Lattice；单波长 520 nm，相位差量程 0‑130 nm；500 万像素，搭载科研显微镜实现微米级微区测量，测量视场 142×170μm~3.5×4.2mm；非接触无损快照测量，3‑10 秒输出显微视场相位差、光轴角度分布云图；用于 TGV 玻璃通孔、芯片局部、微小光学元件等低相位差样品微区应力分析；配套 PA‑View 分析软件。
主要特点
显微微区面测量：把双折射应力测量下沉至微米尺度，观察器件局部位置应力集中，普通台式 PA‑300 无法达到该微观视场；快照式全视场成像，不需要逐点扫描。
两种供货形态：
PA‑micro：完整成套，含奥林巴斯 / 尼康显微镜整套；开箱即可使用。
PA‑micro‑S：仅偏振测量机头，可对接用户已有兼容显微镜，节省设备成本。
无运动光学部件，稳定性好，适合实验室材料微观机理研究。
❗不支持变焦镜头、不支持三波长色散模式；仅适合低相位差样品；高双折射微区样品选用 WPA‑micro。
🎯典型应用样品
我司将持续保障货源稳定、供货及时，竭诚为大家提供优质的产品与服务。
如需询价、订购、索取产品资料及资质文件，可随时与我司对接人员联系。
品牌负责人：林经理
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
2026年9月2日
优势产品：日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯
变色灯箱、色差仪、卤素光源装置、氧气浓度计、焊接机、应力表面检查仪、LED光源机、电子天平、粘度计、膜厚计、恒流泵、采样泵、PH计、水分计、地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪、接近开关、拉拔机、异音检测仪、应变测试仪、拉针仪、水平测试仪等
