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玉科到货：PA‑300 二维双折射残余应力测量系统日本 Photonic‑Lattice
更新时间：2026-09-03
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到货公告
各位客户、合作伙伴：大家好！
我司新一批Photonic‑Lattice 日本 PA‑300 二维双折射残余应力测量系统已完成入库、检验、上架工作，目前库存充足，可正常接单、发货。
PA‑300 二维双折射残余应力测量系统，日本 Photonic‑Lattice；单波长 520 nm，相位差量程 0‑130 nm；500 万像素高分辨率；
非接触无损全域面测量，3‑10 秒输出相位差、光轴角度分布云图；用于玻璃、晶圆、蓝宝石、SiC 等低相位差精密基材研发与品质管控；配套 PA‑View 分析软件
主要特点
超高灵敏度捕捉微弱双折射：500 万像素，专门针对玻璃、晶圆等低应力样品，适合纳米级残余双折射定量检测；
快照式全视场成像，无需逐点扫描；无旋转检偏器，无机械磨损，抗振动、维护简单；
支持变焦镜头，兼顾大面积全域检测与局部微区应力观察；
软件支持视场校正、实时分析、远程 API，便于对接自动化流程；
不支持三波长，不适合高相位差树脂塑胶样品，高应力样品选用 WPA 系列。
🎯典型应用样品
✅半导体：石英光掩模板、玻璃晶圆、蓝宝石、SiC 碳化硅衬底；✅光学玻璃：化学强化盖板玻璃、退火玻璃、激光加工后玻璃残余应力评估；✅精密光学元件：熔融石英窗口片、光学镜片；✅评估热处理、强化工艺、激光加工引入的微弱残余应力分布
我司将持续保障货源稳定、供货及时，竭诚为大家提供优质的产品与服务。
如需询价、订购、索取产品资料及资质文件，可随时与我司对接人员联系。
品牌负责人：林经理
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
2026年9月2日
优势产品：日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯
变色灯箱、色差仪、卤素光源装置、氧气浓度计、焊接机、应力表面检查仪、LED光源机、电子天平、粘度计、膜厚计、恒流泵、采样泵、PH计、水分计、地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪、接近开关、拉拔机、异音检测仪、应变测试仪、拉针仪、水平测试仪等
