玉崎科学仪器（深圳）有限公司  原装现货供应 供应：WPA 系列大位相差・高应力样品（Photonic‑Lattice 日本）

产品全称：二维双折射 / 残余应力分布测量系统 WPA 系列定位：面向高双折射、大相位差样品；三波长解包裹技术，量程 0‑3500 nm，选配高相位差选件最高可达 10000 nm；非接触无损全域面测量，数秒输出完整应力云图；对标三鹰光器 Mitaka 大位相差机型。

✨核心技术原理

1. 硬件基础：自研光子晶体偏振成像阵列传感器，无旋转检偏器等运动部件，无机械磨损；

2. 三波长测量技术（523 nm / 543 nm / 575 nm）：

   利用相位差的波长色散特性，解决高相位差条件下相位缠绕（解包裹）难题，实现 0‑3500 nm 宽量程测量，普通单波长设备无法实现该量程。

3. 输出物理量：相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件可换算等效应力 (MPa)株式会社フ...。

4. 测量速度：2‑5 秒完成一整个视场二维面扫描，不需要逐点扫描；输出云图、线剖面、统计数据。

📋全系列型号详解

WPA‑200（基础标准机型）

• 定位：实验室通用台式，研发、小批量 QC

• 标准视场：约 27×36 mm ~ 100×133 mm；选配变焦镜头可缩小至 3×4 mm 微区观察

• 传感器像素：384×288（约 11 万像素）

• 重复精度：相位差 σ 10 nm

• 重量约 13kg；电源 AC100‑240V 50/60Hz

• 适用：中等尺寸树脂件、光学薄膜、COP 膜片、注塑小样

WPA‑200‑L（大载台机型）

• 放大样品承载台面，最大样品尺寸约240 × 320 mm

• 光学性能与 WPA‑200 一致；适合大尺寸导光板、大尺寸光学膜、汽车仪表树脂面板。

WPA‑200‑XL（超大台面机型）

• 最大可放置约500 mm 幅宽样品；大型板材、大尺寸挤出膜。

• 整机体积更大，需要工作台 / 设备机架摆放。

WPA‑300 / WPA‑300‑L（新一代升级主力机型）

在保留 WPA‑200 全部大位相差测量能力基础上，偏振传感器分辨率提升 5 倍，可以同时捕捉大相位差本体 + 局部微小应力波动；工业质控主力型号。

• WPA‑300：标准台版；WPA‑300‑L：大样品台版本。

• 优势：针对注塑件局部细小应力集中、模流带来微小应力梯度，图像细节远优于 WPA‑200。

WPA 衍生特殊型号

1. WPA‑micro：显微镜搭载版本；对接奥林巴斯 / 尼康显微镜，实现微米局部微区的大位相差测量；微小光学元件。

2. WPA‑200‑MT：模块化分体光源传感单元，用于设备集成、离线改造、对接产线工装。

3. WPA‑200‑NIR：近红外版本（810/850/880nm 三波长）；可见光不透明、红外透光深色树脂样品。

📊WPA 系列通用核心参数

🎯典型适用样品

❗不推荐：玻璃、晶圆等相位差很低样品，该场景应选用 PA 系列。

🧩原厂可选配件清单

1. 变焦镜头：缩小视场局部微区观测；

2. 数据处理选件：应力 MPa 换算、光弹系数输入；

3. 遮光罩：规避环境杂光干扰；

4. 高位相差扩展选件：量程扩展至 10000 nm；

5. 光弹性系数测量模块；

6. 远程控制 API 接口，对接上位机系统。

⚠️WPA‑200 与 WPA‑300 选型区分