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Photonic‑Lattice自研光子晶体偏振成像传感器玉崎科学仪器原装供应
更新时间：2026-09-03
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Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）自研光子晶体偏振成像传感器玉崎科学仪器原装供应
定位：二维双折射 / 残余应力无损面测量设备厂商，自研光子晶体偏振成像传感器；数秒输出整片样品应力云图，面向半导体、光学、显示行业；直接对标日本三鹰光器 Mitaka。
测量原理：偏振光非接触无损检测；输出相位差（位相差 nm）、光轴角度 (°)、换算应力 (MPa)，生成样品全域双折射 / 应力分布云图；无需切片、不损伤工件。
软件：WPA‑View / PA‑View；支持云图、线剖面分析、区域统计、应力换算、数据导出、远程控制
四大产品线完整整理
一、WPA 系列｜大位相差・高应力样品（三波长：523/543/575 nm）
WPA‑200：标准台式，实验室通用机型
WPA‑200‑L：大载台，大尺寸基板、光学膜
WPA‑200‑XL：超大台面，最大样品约 500 mm
WPA‑300 / WPA‑300‑L：新一代，偏振传感器分辨率提升 5 倍，捕捉极微小应力变化，工业质控主力机型
二、PA 系列｜低相位差・超高精度（单波长 520 nm，量程 0‑130 nm；500 万像素）
PA‑300：台式主机，玻璃、晶圆、蓝宝石、SiC 衬底
PA‑micro：显微镜搭载微区测量；可配奥林巴斯 / 尼康显微镜，测芯片局部、微小光学元件，微米级区域应力观测。
PA‑300‑NIR：近红外版本（850 nm），测量可见光不透、红外透光材料（LiDAR 元件、深色树脂）.。
PA‑300‑MT：分体式模块，可集成到产线设备内部。
三、KAMAKIRI 系列｜产线在线 / 离线扫描机型（Photron 高速相机 + Photonic‑Lattice 偏振芯片）
KAMAKIRI‑X‑Stage：离线台式线扫描机型；算法与在线机型一致；产线导入前的入门验证机型，大样品离线抽检；可后期升级为完整在线系统。
KAMAKIRI‑MEM‑LS：在线定点条带扫描，采集薄膜幅宽局部区域，替代抽样检测。
KAMAKIRI‑STS‑LS：全幅宽连续在线检测；整卷薄膜 100% 全覆盖检测，光学薄膜工厂量产主力机型。
四、其他衍生单元
CRYSTA 偏振高速相机：独立偏振成像相机，可集成第三方设备；
NIR 选件：WPA‑200‑NIR，高应力红外材料测量；
Rheo‑Iris：与安东帕流变仪联动，流变‑偏振成像同步测量。
📊WPA vs PA 核心选型对比表
| 项目 | WPA 系列 | PA 系列 |
|---|---|---|
| 测量波长 | 三波长 523/543/575 nm | 单波长 520 nm（‑NIR 为 850nm 近红外） |
| 相位差量程 | 0‑3500 nm（可选扩展 10000 nm） | 0‑130 nm |
| 像素 | WPA‑300 分辨率较 WPA‑200 提升 5 倍 | 500 万像素 |
| 样品特征 | 高双折射、厚树脂、注塑件 | 低双折射、玻璃、晶圆、硬质基材 |
| 代表型号 | WPA‑300‑L | PA‑300‑NIR、PA‑micro |
⚔️对标：Photonic‑Lattice VS Mitaka（三鹰光器）
| 对比项 | Photonic‑Lattice | Mitaka 三鹰光器 |
|---|---|---|
| 核心技术 | 光子晶体偏振阵列传感器 | 相位差调制旋转检偏器 |
| 测量速度 | 快，数秒完成全视场成像 | 中等 |
| 高相位差能力 | 优秀 (WPA 三波长，最高 10000nm) | 中等 |
| 微区测量 | PA‑micro 接显微镜 | MLP 系列显微模块 |
| 在线产线方案 | 完整 KAMAKIRI 量产系列 | 以实验室台式为主，在线方案较少 |
| 软件 | 全域云图、应力换算、剖面分析 | 相位差、光轴角度测量 |
Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）供货采购渠道
玉崎科学仪器（深圳）有限公司 原装现货供应
地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学
项目负责人：林经理
