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玉科到货：WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统
更新时间：2026-09-03
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到货公告
各位客户、合作伙伴：大家好！
我司新到货 WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统 已完成入库、检验、上架工作，目前库存充足，可正常接单、发货。
WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统
品牌：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）
WPA‑200‑L 属于 WPA‑200 系列大载台版本；光学测量性能与 WPA‑200 一致，仅放大样品承载平台，用于中‑大尺寸高相位差透明工件；非接触无损全域面测量，2‑5 秒输出完整应力云图。
核心原理
搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523 nm / 543 nm / 575 nm 三波长解包裹技术，解决高相位差相位缠绕；输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件换算等效应力 MPa
我司将持续保障货源稳定、供货及时，竭诚为大家提供优质的产品与服务。
如需询价、订购、索取产品资料及资质文件，可随时与我司对接人员联系。
品牌负责人：林经理
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
2026年9月3日
