KAMAKIRI 系列线扫描式离线 / 在线双折射应力检测系统玉崎科学供应

KAMAKIRI 系列 线扫描式离线 / 在线双折射应力检测系统 玉崎科学仪器（深圳）有限公司  原装现货供应

品牌：Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）

定位：光学薄膜产线专用线扫描双折射（位相差）检测设备，打通实验室研发（PA/WPA 台式机）→量产在线质控；将光子晶体偏振传感器 + Photron 高速相机结合，实现走带状态下连续扫描，输出相位差 nm、光轴角度 °、应力分布云图，替代传统人工抽样检测，可实现整卷薄膜 100% 全幅全长度检测。软件：KAMAKIRI Live‑Viewer；支持实时画面、OK/NG 判定、缺陷报警、缺陷位置记录、数据存储导出、对接产线 MES 系统。

核心技术原理

硬件：内置自研光子晶体偏振阵列传感器，搭配 Photron 高速线扫描相机，无旋转机械部件；

工作模式：线扫描（Line‑Scan），薄膜走带行进过程中，连续采集横向一整条线偏振数据，拼接生成二维全域双折射分布图；输出物理量：相位差（Retardation，nm）、光轴主轴角度（0‑180°）；选配数据处理选件换算应力 MPa；

算法统一：X‑Stage 离线机型与 STS‑LS 在线机型使用同一套测量算法；研发阶段离线验证，后期直接升级部署产线，数据可比对，消除研发‑量产设备差异。

全系列型号详解

1. KAMAKIRI‑X‑Stage（离线台式线扫描机型）

定位：研发 / 小批量抽检，产线导入前验证入门机型，后期可升级为在线系统..

类型：离线台式，样品放置移动平台扫描，不需要接产线走带；

标准最大样品尺寸：A4 幅面；支持裁切薄膜样片、小片基材检测；

测量波长：标准 543 nm，支持定制波长；

相位差量程：标准 0‑260 nm；可定制大位相差版本（WPA‑KAMAKIRI，三波长，最高 0‑3500nm，选件可达 10000nm）；

重复精度：相位差 σ＜1 nm；光轴角度 σ＜1°；

软件：KAMAKIRI Live‑Viewer；云图、剖面分析、NG 阈值判定；

✅适用场景：实验室研发、来料抽检、配方工艺评估；TAC、COP、PET、PI 光学膜样片；

优势：算法与在线机一致，用小样模拟产线检测效果，规避直接采购昂贵在线设备风险。

2. KAMAKIRI‑MEM‑LS（在线定点条带扫描｜抽样式在线检测）

定位：产线上定点窄幅扫描，替代人工抽样检测

安装在薄膜流延 / 拉伸产线上；单相机，只扫描膜幅上 1 条或多条指定条带；不做全幅检测；

产线走带速度最高可达 30 m/min；

特点：成本低于全幅 STS‑LS；快速监控产线工艺波动；异常实时报警，快速停机减少不良品产出；

✅适用：产线初步质控，抽样监控，不要求 100% 全覆盖。

3. KAMAKIRI‑STS‑LS（全幅宽全长度在线检测｜量产主力）

定位：整卷薄膜 100% 全覆盖在线检测；多相机拼接实现完整幅宽检测.

单相机最大扫描幅宽约 600 mm；多相机拼接，可定制支持5 米以上超宽薄膜产线；

走带速度最高 30 m/min；

测量波长：标准 543 nm；量程 0‑260 nm；

输出：实时全幅双折射云图；OK/NG 自动判定；缺陷坐标记录；报警输出对接产线；完整数据日志留存；

✅适用：TAC/COP/PVA/PET/PI 光学薄膜量产工厂，整卷产品全检，防止不良流出；显示、偏光片光学膜量产质控。

4. KAMAKIRI‑MEM‑AS（高速面扫描模块）

高速面扫描版本；针对动态变化样品；适合观察材料受力过程双折射实时变化；多用于工艺开发验证。

5. WPA‑KAMAKIRI（大位相差版本 KAMAKIRI）

三波长 523/543/575 nm；相位差量程 0‑3500 nm，选件最高 10000 nm；专门针对高双折射厚膜、PET、厚树脂膜；X‑Stage 离线和 STS‑LS 在线均可以选 WPA 光学配置.。

📊KAMAKIRI 系列通用基础参数（标准 543nm 版本）

项目参数

测量波长标准 543 nm（可定制其他波长；WPA‑KAMAKIRI 三波长 523/543/575 nm）

相位差量程标准 0‑260 nm；WPA‑KAMAKIRI：0‑3500nm，选件 10000nm

光轴角度范围0‑180°

重复精度相位差 σ＜1 nm；光轴角度 σ＜1°

最大走带速度最高 30 m/min

单相机扫描宽度最大 600 mm；多相机拼接扩展至 5m+

输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理选件）

软件KAMAKIRI Live‑Viewer；实时监控、NG 判定、缺陷坐标、CSV 导出、MES 对接 API

接口工业通讯，可对接产线 PLC/MES

🎯典型适用样品

✅显示光学膜：TAC、COP、COC、PVA 偏光片基膜；✅功能薄膜：PET、PEN、PI、流延高分子薄膜；✅树脂板材、光学注塑件切片样品；

⚠️选型区分

样品相位差低（0‑260nm）→标准 KAMAKIRI（543nm）

厚 PET、高双折射膜，相位差几百‑几千 nm →必须选 WPA‑KAMAKIRI 三波长版本。

🧩原厂可选配件 & 选件

WPA 高相位差光学套件：升级三波长，量程 0‑3500nm（最高 10000nm）；

数据处理选件：应力 MPa 换算；输入材料光弹系数；

产线对接 API 接口：对接 PLC/MES；报警继电器输出；

多相机扩展模块（STS‑LS），扩展扫描幅宽；

NIR 近红外波长定制（红外透光材料）。

KAMAKIRI 选型决策指南

型号使用场景是否接入产线核心价值

KAMAKIRI‑X‑Stage研发、小样评估，产线导入验证❌离线台式算法和在线机一致，低成本预验证，后期可升级

KAMAKIRI‑MEM‑LS产线定点条带监控，抽样质控✅在线成本适中，监控工艺波动

KAMAKIRI‑STS‑LS量产 100% 全幅全长度检测✅在线整卷全检，缺陷定位，防止不良流出

WPA‑KAMAKIRI高相位差厚膜、高双折射材料离线 / 在线均可三波长，覆盖几千 nm 大位相差样品

采购渠道

玉崎科学仪器（深圳）有限公司  原装现货供应

地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学

项目负责人：林经理