玉科现货OSI王子计测超高相位差测量装置

玉科现货OSI王子计测超高相位差测量装置

超高相位差测量装置 PAM-UHR100

■特点
测量方法
平行尼科尔光谱

法 样品尺寸
□40mm，厚度≤3mm

测量项目
相位差 取向角，双折射

Oji Keisoku (OSI 王子计测) PAM-UHR100 超高相位差测量装置 产品介绍

一、核心定位与测量原理

1. 产品定位

• 核心用途：精准测量超大相位差透明拉伸薄膜的相位差、分子配向角、双折射 Δn，评估拉伸取向均匀性、热收缩特性、光学各向异性，解决常规相位差仪量程不足（仅测 0~1000nm）、大相位差无法读数 / 跳数的问题

• 核心优势：超大量程 800~20000nm、重复精度 ±1nm、固定偏振光学系统、一键自动计算双折射、台式紧凑稳定

• 适用场景：PET/PC/PMMA 等光学 / 包装拉伸膜、收缩膜、磁带基膜、光盘基材、高双折射高分子材料的研发、IQC、产线抽检、工艺参数优化

2. 测量原理（平行尼科尔分光法）

• 采用固定偏光子 + 固定检光子 + 白光 LED + 分光检测的平行尼科尔光学架构，避免旋转部件磨损、漂移，适合超大相位差稳定测量

• 原理：白光经偏光→样品→检光→分光器，通过光谱干涉信号解析，直接计算超大相位差（800~20000nm）、配向角；输入样品厚度后，自动计算双折射 Δn，无需人工换算

• 光源：白色 LED 固态光源，寿命长、波长稳定、免预热，适配宽光谱相位差分析

二、关键技术参数（标准）

1. 测量核心参数

• 测量项目：相位差 (Retardation)、配向角、双折射 Δn

• 相位差量程：800~20000nm（20μm）（行业顶级超大量程，覆盖所有高拉伸薄膜）

• 相位差重复精度：±1nm（3σ）

• 配向角测量范围：0~180°

• 配向角精度：±0.1°

• 测量光斑：标准 φ5mm（适配 40mm 方形样品）

• 测量速度：单点位≤10 秒（含光谱采集 + 计算）

• 样品规格：方形 40mm×40mm，厚度≤3mm（透明拉伸薄膜、片材）

2. 硬件规格（台式紧凑一体化）

• 主机尺寸：W415 × D325 × H165 mm

• 主机重量：约 14kg（紧凑台式，易放置于实验室 / 产线工位）

• 供电：AC100V±10%，50/60Hz（可适配宽电压）

• 环境要求：温度 10~35℃、湿度 20~80% RH（无结露）

• 系统配置：测量主机（含光学系统 + 光源 + 分光器）、专用 Windows 控制软件、样品台、校准件、数据线、电源线

3. 软件与数据功能

• 专用 Windows 软件：实时显示相位差 / 配向角 /Δn 数值、光谱曲线、测量数据统计（均值、标准差、Cpk）、合格判定

• 数据输出：CSV、Excel、PDF 报告，支持批量导出、历史数据追溯、SPC 品质管控

• 操作：一键测量、自动校准、厚度输入→自动算 Δn、参数预设、样品定位辅助，操作简单、无需专业光学背景

三、核心产品优势

1. 超大相位差量程，解决行业测量盲区

• 常规相位差仪仅测 0~1000nm，PAM-UHR100 覆盖800~20000nm，适配高拉伸 PET/PC 膜、收缩膜、磁带基膜等超大相位差样品，无量程上限困扰、无跳数 / 无法读数问题

• 固定偏振光学系统，无旋转部件，长期稳定性强、漂移小、维护成本低

2. 超高重复精度，保证测量一致性

• 相位差重复精度 **±1nm**，在 20000nm 超大量程下仍保持高精度，满足研发级、量产级品质管控要求

• 白光分光检测，抗干扰强，不受样品轻微厚度 / 透光率波动影响

3. 一键全参数输出，提升效率

• 一次测量同时得到相位差、配向角、双折射 Δn，输入厚度自动计算 Δn，无需二次换算

• 单点位≤10 秒，比传统手动 / 旋转式设备效率提升，适配批量抽检

4. 紧凑稳定，适配多场景

• 台式一体化、重量轻（14kg），可灵活放置于实验室研发台、产线质检工位

• LED 固态光源，寿命 > 20000 小时，免预热、开机即用，适合高频次测量

四、典型应用领域

1. 高分子薄膜行业：PET/PC/PMMA 拉伸膜、收缩膜、光学补偿膜、磁带基膜、包装膜的拉伸取向评估、热收缩特性分析、双折射管控

2. 光学材料研发：高双折射高分子材料、光盘基材、液晶配套高相位差膜的研发与性能验证

3. 产线品质管控：高拉伸薄膜来料 IQC、工艺参数优化、成品均匀性抽检，解决大相位差无法测量的痛点

五、与同系列常规机型对比（PAM-PR300 vs PAM-UHR100）

欢迎广大行业客户、合作伙伴垂询与洽谈合作：

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