玉科到货:WPA‑300‑L 二维双折射残余应力测量系统

到货公告

各位客户、合作伙伴：大家好！

我司新一批 已完成入库、检验、上架工作，目前库存充足，可正常接单、发货。

WPA‑300‑L 二维双折射残余应力测量系统，日本 Photonic‑Lattice；三波长 523/543/575 nm，相位差量程 0‑3500 nm；大样品台最大可测 240×320 mm 样品；偏振传感器分辨率较 WPA‑200 提升 5 倍；非接触无损全域面测量，2‑5 秒输出相位差、光轴角度分布云图；可捕捉局部微小应力集中，用于中大尺寸透明树脂、光学薄膜等高应力样品研发与工业品质管控；配套 WPA‑View 分析软件

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品牌负责人：林经理

玉崎科学仪器（深圳）有限公司

2026年9月3日