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更新时间:2026-05-29
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PT25:中心频率 25 MHz,属于中高频检测频段,平衡穿透深度与检测分辨率
-6:振子有效口径(直径)6 mm,适配常规精密检测场景
-20:固定焦距 20 mm,是该系列长焦距型号,适配中远距离近场检测
中心频率:25 MHz(精度±1 MHz)
振子直径:6 mm
标准焦距:20 mm
压电材料:P(VDF-TrFE)共聚压电薄膜
结构设计:无光学透镜一体式结构,无透镜杂波干扰
信号特性:宽带响应、脉冲回波信号纯净、信噪比高
声学特性:声阻抗与水介质高度匹配,超声传输损耗极低
接口规格:标配Microdot / UHF接口,适配主流SAM超声设备
外壳材质:不锈钢密封机身,工业级防护、抗腐蚀
工作温度:-20℃ ~ 60℃,工况适配性强
长焦距适配广:20mm长焦距设计,相比短焦距探头,可适配厚度更大的工件检测,有效规避近场盲区,适合中等距离精密探伤
无透镜纯净成像:摒弃传统声学透镜结构,依托自研压电薄膜直接收发超声波,消除透镜反射杂波,波形干净、检测误差极低
频段性能均衡:25MHz中高频频段,分辨率优于低频探头,穿透性优于40MHz、50MHz高频型号,适配多层复合材料、封装结构的层间缺陷检测
低损耗高灵敏:特殊压电薄膜材质,与耦合水介质阻抗匹配度高,超声能量传输损耗小,微弱缺陷信号捕捉能力强
工业稳定性强:全密封不锈钢结构,抗震动、抗干扰,可长期稳定用于实验室精密检测与工业量产质检场景
超声波扫描显微镜(SAM)、超声波成像检测系统(SAT)
半导体行业:功率器件封装、PCB基板、多层模组层间空洞、分层缺陷检测
材料检测:厚涂层、多层复合材料、粘接层界面缺陷与脱层检测
精密工业无损检测:中厚度精密零部件微裂纹、孔隙、内部缺陷排查
科研领域:材料界面特性分析、多层结构超声成像实验
项目 | 详细参数 |
|---|---|
产品型号 | PT25-6-20 |
中心频率 | 25MHz |
振子直径 | 6mm |
标准焦距 | 20mm |
核心材质 | P(VDF-TrFE)压电薄膜 |
透镜结构 | 无透镜一体式设计 |
设备接口 | Microdot / UHF |
工作温度 | -20℃ ~ 60℃ |
核心用途 | SAM成像、半导体封装检测、多层材料无损探伤、精密工业检测 |
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